單項(xiàng)選擇題鍛件中粗大晶粒通常會引起（）
A.底反射降低或消失
B.較高的“雜波”或噪聲顯示
C.穿透力降低
D.以上都是
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1.單項(xiàng)選擇題在檢驗(yàn)工件時若無缺陷顯示，則操作者應(yīng)注意底面回波，若底面回波的高度劇烈下降，引起這種情況的原因可能是（）
A.大而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.晶粒粗大
D.以上都是
2.單項(xiàng)選擇題在接觸法超聲波縱波垂直入射探傷中，出現(xiàn)底波幅度降低甚至消失的原因可能是（）
A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷
C.存在被始波遮蔽的近表面缺陷
D.以上都是
4.單項(xiàng)選擇題在一定的檢測靈敏度下，缺陷回波幅度高低取決于（）
A.缺陷尺寸
B.缺陷方位
C.缺陷類型
D.以上都是
5.單項(xiàng)選擇題選擇超聲波檢測的工作頻率時，主要考慮什么因素（）
A.缺陷檢出能力
B.材料衰減
C.指向性
D.分辨率
E.以上都是
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題