填空題能把兩個(gè)相鄰缺陷回波在屏幕上分辨出來的能力稱為（）。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題超聲波檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（）
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都是
2.單項(xiàng)選擇題鍛件中粗大晶粒通常會(huì)引起（）
A.底反射降低或消失
B.較高的“雜波”或噪聲顯示
C.穿透力降低
D.以上都是
3.單項(xiàng)選擇題在檢驗(yàn)工件時(shí)若無缺陷顯示，則操作者應(yīng)注意底面回波，若底面回波的高度劇烈下降，引起這種情況的原因可能是（）
A.大而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.晶粒粗大
D.以上都是
4.單項(xiàng)選擇題在接觸法超聲波縱波垂直入射探傷中，出現(xiàn)底波幅度降低甚至消失的原因可能是（）
A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷
C.存在被始波遮蔽的近表面缺陷
D.以上都是
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。
題型：單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項(xiàng)選擇題