單項(xiàng)選擇題新購(gòu)置或檢修完畢第一次投入使用的超探儀，使用前須進(jìn)行（）。
A.日常性能校驗(yàn)
B.季度性能檢查
C.一般性能檢查
D.特殊性能檢查
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1.單項(xiàng)選擇題（）效應(yīng)也即是超聲波的發(fā)射。
A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
2.單項(xiàng)選擇題探頭中的換能器通常用壓電晶片來(lái)制作，當(dāng)壓電晶片受發(fā)射電脈沖激勵(lì)后產(chǎn)生振動(dòng)，即可發(fā)射聲脈沖，為（）效應(yīng)。
A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
3.單項(xiàng)選擇題開(kāi)槽的超聲參考試塊可用于（）。
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作為評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
4.單項(xiàng)選擇題超聲波從材料1進(jìn)入材料2，隨聲阻抗比Z1/Z2的增大而透過(guò)的聲壓（）。
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
5.單項(xiàng)選擇題鑄件往往難以檢驗(yàn)，是因?yàn)椋ǎ?/a>
A.晶粒結(jié)構(gòu)非常致密
B.晶粒結(jié)構(gòu)粗大
C.流線均勻
D.缺陷任意取向
最新試題
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。
題型：判斷題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
影響較大的散射線通常來(lái)自（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題