單項選擇題能用于測定縱波平底孔實用AVG曲線的試塊是（）。
A.IIW
B.IIW2
C.RB-1
D.CS-2
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1.單項選擇題（）是以特定方法檢測特定試件時所用的試塊，與受檢件材料聲學特性相似，含有意義明確的參考反射體。
A.對比試塊
B.標準試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊
2.單項選擇題（）是具有規(guī)定的材質(zhì)、表面狀態(tài)、幾何形狀與尺寸，可用以評定和校準超聲檢測設備的試塊。
A.對比試塊
B.標準試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊
3.單項選擇題關(guān)于超聲波試塊的作用，說法錯誤的是（）。
A.測試、校驗儀器和探頭的性能
B.調(diào)整時基線、確定靈敏度
C.測試工件的聲阻抗
D.評判缺陷大小
4.單項選擇題探頭標牌上的型號為2.5P20Z，則說明探頭為（）。
A.頻率為2MHz，晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑25mm的直探頭
B.頻率為2.5MHz，晶片材料鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的直探頭
C.頻率為2.5MHz，晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的直探頭
D.頻率為2.5MHz，晶片材料鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的雙晶直探頭
5.單項選擇題探測與探測面成一定角度的近表面缺陷或薄件中的缺陷應選擇（）。
A.雙晶直探頭
B.縱波直探頭
C.表面波探頭
D.雙晶斜探頭
最新試題
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項選擇題
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
題型：單項選擇題
調(diào)節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。
題型：單項選擇題
（）可以對管路、管道進行長距離檢測。
題型：單項選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題