A.(Z2-Z1)/(Z2+Z1)
B.2Z2/(Z2+Z1)
C.(Z2-Z1)2/(Z2+Z1)2
D.(4Z1+Z2/Z2+Z1)2
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A.表面波全反射
B.橫波45°
C.表面波
D.以上都不對
A.14.7°
B.17°
C.20°
D.不成立
A.27.5°
B.45°
C.50°
D.不成立
A.入射縱波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
C.傾斜晶片與探測面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
A.36°
B.24°
C.30°
D.45°
最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
儀器水平線性影響()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。