A.壓電應(yīng)變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機(jī)械品質(zhì)因子
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A.避免在靠近強(qiáng)磁場(chǎng)、有強(qiáng)烈振動(dòng)的場(chǎng)合使用儀器
B.儀器工作時(shí)防止雨、雪、水、機(jī)油進(jìn)入儀器內(nèi)部
C.放電后的蓄電池應(yīng)及時(shí)充電
D.氣候潮濕地區(qū)或季節(jié),長(zhǎng)期不用應(yīng)定期開(kāi)機(jī),開(kāi)機(jī)時(shí)間約10min
A.掃描電路
B.接收電路
C.同步電路
D.發(fā)射電路
A.超聲檢測(cè)儀通過(guò)產(chǎn)生電振蕩并加于超聲波探頭上,激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)發(fā)射超聲波
B.超聲檢測(cè)儀可將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大,通過(guò)一定形式顯示出來(lái)
C.超聲檢測(cè)儀可以得到被探測(cè)工件表面及內(nèi)部有無(wú)缺陷及缺陷位置和大小
D.超聲檢測(cè)儀是超聲檢測(cè)的主體設(shè)備
A.用來(lái)描述距離、波幅和缺陷當(dāng)量之間的關(guān)系曲線
B.實(shí)用AVG曲線可以理論計(jì)算得到或者由通用AVG曲線得到
C.實(shí)用AVG曲線只適用于特定探頭
D.實(shí)用AVG曲線中要注明探頭的尺寸和頻率
A.表示回波聲程、幅度(dB)和缺陷大小之間關(guān)系的曲線
B.用于缺陷定量和靈敏度調(diào)整
C.聲程以探頭的近場(chǎng)區(qū)為單位,缺陷以探頭的直徑為單位,幅值以始波高度為參考值
D.適用于全部聲程
最新試題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。