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半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)問答題每日一練(2020.05.07)

來源：考試資料網(wǎng)

1.問答題數(shù)字電路測(cè)試的流程。

參考答案：⑴先閱讀被檢器件的使用手冊(cè)，根據(jù)手冊(cè)上的動(dòng)、靜態(tài)參數(shù)編寫測(cè)試程序；
⑵根據(jù)送測(cè)單位的測(cè)試流程單給出的測(cè)試設(shè)備選...

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2.問答題靜電對(duì)電子器件的危害。

參考答案：⑴靜電吸附灰塵，改變線路間的阻抗，影響產(chǎn)品的功能與壽命。
⑵因電場(chǎng)或電流破壞元件的絕緣或?qū)w，使元件不能工作（...

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3.問答題測(cè)試的一般要求。

參考答案：必須按照微電子器件試驗(yàn)方法的軍用國家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，其中就對(duì)測(cè)試環(huán)境提出了嚴(yán)格的要求，這樣可以避免外界因素對(duì)器件造成的誤差...

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4.問答題IDD靜態(tài)電流測(cè)試方法。

參考答案：1、運(yùn)行一定的測(cè)試向量將器件進(jìn)入低功耗狀態(tài)；
2、器件保持在低功耗裝態(tài)下，測(cè)量流入VDD的電流；
3...

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5.問答題提高家電產(chǎn)品可靠性的方法。

參考答案：家電產(chǎn)品的可靠性是衡量其使用質(zhì)量的一項(xiàng)重要指標(biāo)，它貫穿于家電產(chǎn)品開發(fā)生產(chǎn)的每一個(gè)環(huán)節(jié)。以下就對(duì)家電產(chǎn)品可靠性測(cè)試的具體措...

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