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半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)問答題每日一練(2020.05.16)
來源：考試資料網(wǎng)
1.問答題
數(shù)字電路測(cè)試的流程。
參考答案：
⑴先閱讀被檢器件的使用手冊(cè)，根據(jù)手冊(cè)上的動(dòng)、靜態(tài)參數(shù)編寫測(cè)試程序；
⑵根據(jù)送測(cè)單位的測(cè)試流程單給出的測(cè)試設(shè)備選...
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2.問答題
Open-short串行靜態(tài)測(cè)試方法優(yōu)缺點(diǎn)。
參考答案：
優(yōu)點(diǎn)
當(dāng)一個(gè)失效（failure）發(fā)生時(shí)，其準(zhǔn)確的電壓測(cè)量值會(huì)被數(shù)據(jù)記錄（datalog）顯示出來，不管它是O...
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3.問答題
測(cè)試的一般要求。
參考答案：
必須按照微電子器件試驗(yàn)方法的軍用國家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，其中就對(duì)測(cè)試環(huán)境提出了嚴(yán)格的要求，這樣可以避免外界因素對(duì)器件造成的誤差...
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4.問答題
Open-short功能測(cè)試優(yōu)缺點(diǎn)。
參考答案：
優(yōu)點(diǎn)
相對(duì)于DC串行/靜態(tài)法，運(yùn)行測(cè)試向量要快得多。
缺點(diǎn)
datalog顯示的結(jié)果信息有...
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5.問答題
分立元件的測(cè)試。
參考答案：
分立元件是與集成電路相對(duì)而言的，包括電阻、電容、電感、晶體管等電子元件。下面主要介紹二極管的測(cè)試，二極管的類型不同，封裝...
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