A.平底孔
B.平行于探測面且垂直于聲束的平底槽
C.平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔
D.平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口
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你可能感興趣的試題
A.作為探測時的校準基準,并為評價工件中缺陷嚴重程度提供依據(jù)
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具
C.為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證
D.提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體
A.雖然耦合損耗大,但有利于減小工件中噪聲
B.脈沖窄,探測靈敏度高
C.探頭與儀器匹配較好
D.以上都對
A.使用高聲阻抗耦合劑
B.使用軟保護膜探頭
C.使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸
D.以上都可以
A.草狀回波增多
B.信噪比下降
C.底波次數(shù)減少
D.以上全部
A.耦合層厚度,超聲波在耦合介質中的波長及耦合介質聲阻抗
B.探頭接觸面介質聲阻抗
C.工件被探測面材料聲阻抗
D.以上都對
最新試題
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
儀器水平線性影響()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。