A、砼動彈性模量測定儀
B、快速凍融裝置
C、溫度傳感器
D、砼回彈儀
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A、砼抗凍標(biāo)號是通過快凍法來測定的
B、砼抗凍標(biāo)號是通過慢凍法來測定的
C、砼抗凍標(biāo)號以抗壓強度損失率不超過25%或質(zhì)量損失率不超過5%的最大凍融循環(huán)次數(shù)來確定
D、砼抗凍標(biāo)號以相對動彈性模量下降至不低于60%或質(zhì)量損失率不超過5%的最大凍融循環(huán)次數(shù)來確定
A、砼抗凍標(biāo)號是通過快凍法來測定的
B、砼抗凍標(biāo)號是通過慢凍法來測定的
C、砼抗凍標(biāo)號以抗壓強度損失率不超過25%或質(zhì)量損失率不超過5%的最大凍融循環(huán)次數(shù)來確定
D、砼抗凍標(biāo)號以相對動彈性模量下降至不低于60%或質(zhì)量損失率不超過5%的最大凍融循環(huán)次數(shù)來確定
A、3個試件的測值有出現(xiàn)負值的,應(yīng)先把負值取為0再進行計算與結(jié)果確定
B、按選項A處理后,當(dāng)3個試件的測值中有1個且僅有1個極值與中間值之差超過1%時,取中間值作為測定值
C、按選項A處理后,當(dāng)3個試件的測值中2個極值均與中間值之差超過1%時,取中間值作為測定值
D、按選項A處理后,當(dāng)3個試件的測值中2個極值均與中間值之差超過1%時,試驗結(jié)果無效
A、當(dāng)3個試件的測值中有1個且僅有1個極值超過中間值的15%時,取其余2個測值的算術(shù)平均值為強度測定值
B、當(dāng)3個試件的測值中有1個且僅有1個極值超過中間值的15%時,取中間值為強度測定值
C、當(dāng)3個試件的測值中2個極值均超過中間值的15%時,取中間值為強度測定值
D、當(dāng)3個試件的測值中2個極值均超過中間值的15%時,強度試驗結(jié)果無效
A、已達到規(guī)定的循環(huán)次數(shù)
B、試件的相對動彈性模量下降到60%
C、試件抗壓強度損失率已達到25%
D、試件質(zhì)量損失率已達到5%
最新試題
可用作硅片的研磨材料是()
表面態(tài)中性能級位于費米能級以上時,該表面態(tài)為();
只涉及到大約一個原子大小范圍的晶格缺陷是()。
屬于晶體缺陷中面缺陷的是()
鑄造多晶硅中氫的主要作用包括()
載流子的擴散運動產(chǎn)生擴散電流,漂移運動產(chǎn)生()電流。
最有效的復(fù)合中心能級位置在Ei附近;最有利陷阱作用的能級位置在()附近,常見的是少子陷阱。
影響單晶內(nèi)雜質(zhì)數(shù)量及分布的主要因素是()①原材料中雜質(zhì)的種類和含量;②雜質(zhì)的分凝效應(yīng);③雜質(zhì)的蒸發(fā)效應(yīng);④生長過程中坩堝或系統(tǒng)內(nèi)雜質(zhì)的沾污;⑤加入雜質(zhì)量;
一塊半導(dǎo)體壽命τ=15µs,光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流子將衰減到原來的()。
制約鑄造多晶硅材料少子壽命的主要因素不包括()