A.單晶直探頭反射法
B.透射法
C.雙晶直探頭反射法
D.以上都是
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A.可以精確調(diào)節(jié)或改變聲束角度
B.便于實現(xiàn)聚焦聲束檢測
C.便于實現(xiàn)快速或自動檢測
D.以上都是
A.由粗糙表面引起的聲能損失較小
B.表面盲區(qū)較小
C.人為因素影響較小
D.以上都是
A.經(jīng)工件返回的聲能損失較大
B.不適用于檢測形狀復雜的零件
C.不易保持穩(wěn)定的耦合
D.以上都是
A.操作簡便，適用于局部或現(xiàn)場檢測
B.聲能損失較少，可以提供較大的穿透能力
C.相同條件下，可提供更高的檢測靈敏度
D.以上都是
A.檢測大厚度零件，選擇較低的頻率是為了減少表面散射損耗
B.檢測小厚度零件，選擇較高的頻率是為了提高分辨力
C.檢測晶粒粗大零件，選擇較低的頻率是為了提高小缺陷檢測能力
D.以上都正確
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。