單項(xiàng)選擇題在探測(cè)條件相同的情況下,直徑比為2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體,其曲底面回波高度相差()。

A.12dB
B.9dB
C.6dB
D.3dB


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1.單項(xiàng)選擇題半擴(kuò)散角是晶片尺寸和聲波波長(zhǎng)的函數(shù),它()。

A.隨頻率增加、晶片尺寸減小而減小
B.隨頻率或晶片尺寸減小而增大
C.隨頻率或晶片尺寸減小而減小
D.頻率增加、晶片尺寸減小而增大

2.單項(xiàng)選擇題下面有關(guān)半擴(kuò)散角的敘述,哪條是錯(cuò)誤的?()

A.半擴(kuò)散角用第一零輻射角表示
B.半擴(kuò)散角用以表征波束的指向性
C.半擴(kuò)散角大小取決于晶片尺寸和聲波波長(zhǎng)
D.超聲探頭的半擴(kuò)散角越小越好

3.單項(xiàng)選擇題在超聲探頭遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),()。

A.聲束邊緣聲壓最大
B.聲束軸線上聲壓最大
C.聲束邊緣和中心軸線聲壓一樣
D.聲壓與聲束寬度成正比

4.單項(xiàng)選擇題φ14mm、2.5MHz直探頭在鋼中的近場(chǎng)長(zhǎng)為()

A.27mm
B.21mm
C.38mm
D.以上都不對(duì)

5.單項(xiàng)選擇題活塞波聲源的聲束軸線上最后一個(gè)聲壓最大點(diǎn)到聲源的距離稱為()

A.近場(chǎng)長(zhǎng)度
B.未擴(kuò)散區(qū)
C.主聲束
D.超聲場(chǎng)

最新試題

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

儀器水平線性影響()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題