標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。