斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測(cè)。