A.隨著深度的增加而提高
B.隨著探頭中心間距減小而提高
C.隨著脈沖寬度的減小而提高
D.以上都對
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A.為減小測量缺陷信號與測量誤差,必須仔細(xì)測量出所使用的耦合劑厚度
B.如果測量缺陷信號與直通波到達(dá)時間之差,則耦合劑引起的缺陷深度測量誤差很小
C.如果測量缺陷信號到達(dá)的絕對時間,則耦合劑引起的測量誤差很小
D.以上敘述都是錯誤的
A.用高精度的長度尺反復(fù)測量
B.用專用的激光測距儀反復(fù)測量
C.測量標(biāo)準(zhǔn)試塊上不同深度反射體的信號到達(dá)時間
D.測量直通波或者底面波信號尖端信號到達(dá)的時間
A.對缺陷深度測量精度影響很大
B.對缺陷高度測量精度影響很大
C.對缺陷長度測量精度影響很大
D.對缺陷偏離軸線位置的測量精度影響很大
A.缺陷深度
B.信號脈沖的長度
C.探頭中心間距
D.晶片尺寸
A.嚴(yán)重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴(yán)重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在
最新試題
射線照片上一個細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來,最主要的是決定于()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()