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半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)問(wèn)答題每日一練(2019.11.30)
來(lái)源:考試資料網(wǎng)
1.問(wèn)答題
提高家電產(chǎn)品可靠性的方法。
參考答案:
家電產(chǎn)品的可靠性是衡量其使用質(zhì)量的一項(xiàng)重要指標(biāo),它貫穿于家電產(chǎn)品開發(fā)生產(chǎn)的每一個(gè)環(huán)節(jié)。以下就對(duì)家電產(chǎn)品可靠性測(cè)試的具體措...
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2.問(wèn)答題
模擬電路的測(cè)試
參考答案:
模擬集成電路的最大特點(diǎn)在于其輸入、輸出信號(hào)是連續(xù)變化的,這就決定了模擬集成電路測(cè)試的復(fù)雜性,和多樣性。
3.問(wèn)答題
簡(jiǎn)要說(shuō)明為什么壓電式傳感器只適合作動(dòng)態(tài)測(cè)量,而不適合檢測(cè)靜態(tài)信號(hào)。
參考答案:
壓電式傳感器的工作原理決定其只適于動(dòng)態(tài)量測(cè)量。力作用在壓電傳感器上,其會(huì)產(chǎn)生電荷。電荷量很微弱,會(huì)由自身泄漏掉。若動(dòng)態(tài)力...
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4.問(wèn)答題
Open-short串行靜態(tài)測(cè)試方法優(yōu)缺點(diǎn)。
參考答案:
優(yōu)點(diǎn)
當(dāng)一個(gè)失效(failure)發(fā)生時(shí),其準(zhǔn)確的電壓測(cè)量值會(huì)被數(shù)據(jù)記錄(datalog)顯示出來(lái),不管它是O...
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5.問(wèn)答題
IDD靜態(tài)電流測(cè)試方法。
參考答案:
1、運(yùn)行一定的測(cè)試向量將器件進(jìn)入低功耗狀態(tài);
2、器件保持在低功耗裝態(tài)下,測(cè)量流入VDD的電流;
3...
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