多項(xiàng)選擇題砼力學(xué)性能試驗(yàn)的儀器設(shè)備包括有()。

A、壓力試驗(yàn)機(jī)
B、砼抗?jié)B儀
C、微變形測量儀
D、鋼板尺


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你可能感興趣的試題

1.多項(xiàng)選擇題砼力學(xué)性能試件的尺寸構(gòu)造有公差要求的包括有()。

A、試件承壓面的平面度
B、試件邊長、直徑和高的尺寸
C、試件質(zhì)量
D、試件相鄰面的垂直度

2.多項(xiàng)選擇題以下()尺寸和形狀的試件是砼抗折強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)試件。

A、100×100×400mm棱柱體
B、150×150×600mm棱柱體
C、Φ150×300mm圓柱體
D、150×150×550mm棱柱體

3.多項(xiàng)選擇題以下()尺寸和形狀的試件可用作砼抗折強(qiáng)度試件。

A、100×100×400mm棱柱體
B、150×150×600mm棱柱體
C、Φ200×400mm圓柱體
D、150×150×550mm棱柱體

4.多項(xiàng)選擇題以下()尺寸和形狀的試件是砼靜力受壓彈性模量非標(biāo)準(zhǔn)試件。

A、200×200×400mm棱柱體
B、Φ200×400mm圓柱體
C、Φ100×200mm圓柱體
D、100×100×300mm棱柱體

5.多項(xiàng)選擇題以下()尺寸和形狀的試件可用作砼軸心抗壓強(qiáng)度試件。

A、200×200×400mm棱柱體
B、100×100×300mm棱柱體
C、Φ100×200mm圓柱體
D、200×200×600mm棱柱體

最新試題

多晶硅的生產(chǎn)方法主要包含:()1)冶金法2)硅烷法3)重?fù)焦鑿U料提純法4)西門子改良法5)SiCl4法6)氣液沉淀法7)流化床法

題型:單項(xiàng)選擇題

下列哪一個遷移率的測量方法適合于低阻材料少子遷移率測量()

題型:單項(xiàng)選擇題

下列是晶體的是()。 

題型:單項(xiàng)選擇題

光子傳感器是利用某些半導(dǎo)體材料在入射光的照下,產(chǎn)生().使材料的電學(xué)性質(zhì)發(fā)生變化。通過測量電學(xué)性質(zhì)的變化,可以知道紅外輻射的強(qiáng)弱。光子效應(yīng)所制成的紅外探測器。  

題型:單項(xiàng)選擇題

與半導(dǎo)體相比較,絕緣體的價帶電子激發(fā)到導(dǎo)帶所需的能量()

題型:單項(xiàng)選擇題

表面態(tài)中性能級位于費(fèi)米能級以上時,該表面態(tài)為();

題型:單項(xiàng)選擇題

鑄造多晶硅中的氧主要來源不包括()

題型:單項(xiàng)選擇題

一塊半導(dǎo)體壽命τ=15µs,光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流子將衰減到原來的()。

題型:單項(xiàng)選擇題

如在半導(dǎo)體的禁帶中有一個深雜質(zhì)能級位于禁帶中央,則它對電子的俘獲率()空穴的俘獲率。

題型:單項(xiàng)選擇題

PN結(jié)的基本特性是()

題型:單項(xiàng)選擇題