單項選擇題點荷法檢測時,每個測點處,宜取出()個砂漿大片。
A.2
B.3
C.4
D.5
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1.單項選擇題原位雙剪法檢測時,對于測試步驟以下說法不正確的是()。
A.測試時,應(yīng)將剪切儀主機放入開鑿好的孔洞中,并應(yīng)使儀器的承壓板與試件的磚塊頂面重合
B.儀器軸線與磚塊軸線應(yīng)吻合開鑿孔洞過長時,在儀器尾部應(yīng)另加墊塊
C.加荷的全過程宜為3min~7mim
D.操作剪切儀,應(yīng)勻速施加水平荷載,并應(yīng)直至試件和砌體之間產(chǎn)生相對位移,試件達到破壞狀態(tài)
2.單項選擇題砂漿回彈法在計算每個測位回彈值算術(shù)平均值時,應(yīng)精確到()。
A.0.01
B.0.05
C.0.1
D.0.5
3.單項選擇題砂漿回彈法在每個測位內(nèi),測碳化深度時,應(yīng)選擇3處灰縫,鑿出孔洞直徑約為()。
A.5mm
B.10mm
C.15mm
D.20mm
4.單項選擇題砂漿回彈法在每個彈擊點上,應(yīng)使用回彈儀連續(xù)彈擊(),記錄最后一次回彈值。
A.2次
B.3次
C.4次
D.5次
5.單項選擇題砂漿回彈法每個測位應(yīng)均勻布置()彈擊點,選定彈擊點應(yīng)避開磚的邊緣、灰縫中的氣孔。
A.12個
B.15個
C.16個
D.18個
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如在半導(dǎo)體的禁帶中有一個深雜質(zhì)能級位于禁帶中央,則它對電子的俘獲率()空穴的俘獲率。
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在通常情況下,GaN呈()型結(jié)構(gòu)。
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影響單晶內(nèi)雜質(zhì)數(shù)量及分布的主要因素是()①原材料中雜質(zhì)的種類和含量;②雜質(zhì)的分凝效應(yīng);③雜質(zhì)的蒸發(fā)效應(yīng);④生長過程中坩堝或系統(tǒng)內(nèi)雜質(zhì)的沾污;⑤加入雜質(zhì)量;
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