斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

測定“始脈沖寬度”時，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。