測定組合靈敏度時，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測試。

液浸法的優(yōu)點(diǎn)之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。