單項選擇題扁頂法不適用于測試墻體破壞荷載大于()KN的墻體。

A.300
B.350
C.400
D.450


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1.單項選擇題原位軸壓法僅限用于()厚的磚墻。

A.200mm
B.220mm
C.240mm
D.280mm

5.單項選擇題下列關于檢測單元、測區(qū)和測點的劃分錯誤的是()。

A.當檢測對象為整棟建筑物時,可按樓層劃分檢測單元
B.當檢測對象為整棟建筑物時,按整棟樓劃分
C.整棟建筑物每一個結構單元,劃分為若干個檢測單元
D.每一個檢測單元內,不宜少于6個測區(qū)

最新試題

可用作硅片的研磨材料是()

題型:單項選擇題

鑄造多晶硅中氫的主要作用包括()

題型:多項選擇題

下列是晶體的是()。 

題型:單項選擇題

下列選項中,對從石英到單晶硅的工藝流程是()

題型:單項選擇題

影響單晶內雜質數(shù)量及分布的主要因素是()①原材料中雜質的種類和含量;②雜質的分凝效應;③雜質的蒸發(fā)效應;④生長過程中坩堝或系統(tǒng)內雜質的沾污;⑤加入雜質量;

題型:單項選擇題

一塊半導體壽命τ=15µs,光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流子將衰減到原來的()。

題型:單項選擇題

只涉及到大約一個原子大小范圍的晶格缺陷是()。 

題型:單項選擇題

多晶硅的生產(chǎn)方法主要包含:()1)冶金法2)硅烷法3)重摻硅廢料提純法4)西門子改良法5)SiCl4法6)氣液沉淀法7)流化床法

題型:單項選擇題

光子傳感器是利用某些半導體材料在入射光的照下,產(chǎn)生().使材料的電學性質發(fā)生變化。通過測量電學性質的變化,可以知道紅外輻射的強弱。光子效應所制成的紅外探測器。  

題型:單項選擇題

雜質半導體中的載流子輸運過程的散射機構中,當溫度升高時,電離雜質散射的概率和晶格振動聲子的散射概率的變化分別是()

題型:單項選擇題