單項選擇題扁頂法不適用于測試墻體破壞荷載大于()KN的墻體。
A.300
B.350
C.400
D.450
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1.單項選擇題原位軸壓法僅限用于()厚的磚墻。
A.200mm
B.220mm
C.240mm
D.280mm
2.單項選擇題砌體工程的現(xiàn)場檢測方法,檢測砌體工作應力、彈性模量可采用()。
A.點荷法
B.回彈法
C.筒壓法
D.扁頂法
3.單項選擇題對既有建筑物或應委托方要求僅對建筑物的部分或個別部位檢測時,一個檢測單元的測區(qū)數(shù)不宜少于()個。
A.3個
B.4個
C.5個
D.6個
4.單項選擇題砂漿回彈法每一測區(qū)內測點數(shù)不少于()。
A.10
B.8
C.6
D.5
5.單項選擇題下列關于檢測單元、測區(qū)和測點的劃分錯誤的是()。
A.當檢測對象為整棟建筑物時,可按樓層劃分檢測單元
B.當檢測對象為整棟建筑物時,按整棟樓劃分
C.整棟建筑物每一個結構單元,劃分為若干個檢測單元
D.每一個檢測單元內,不宜少于6個測區(qū)
最新試題
可用作硅片的研磨材料是()
題型:單項選擇題
鑄造多晶硅中氫的主要作用包括()
題型:多項選擇題
下列是晶體的是()。
題型:單項選擇題
下列選項中,對從石英到單晶硅的工藝流程是()
題型:單項選擇題
影響單晶內雜質數(shù)量及分布的主要因素是()①原材料中雜質的種類和含量;②雜質的分凝效應;③雜質的蒸發(fā)效應;④生長過程中坩堝或系統(tǒng)內雜質的沾污;⑤加入雜質量;
題型:單項選擇題
一塊半導體壽命τ=15µs,光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流子將衰減到原來的()。
題型:單項選擇題
只涉及到大約一個原子大小范圍的晶格缺陷是()。
題型:單項選擇題
多晶硅的生產(chǎn)方法主要包含:()1)冶金法2)硅烷法3)重摻硅廢料提純法4)西門子改良法5)SiCl4法6)氣液沉淀法7)流化床法
題型:單項選擇題
光子傳感器是利用某些半導體材料在入射光的照下,產(chǎn)生().使材料的電學性質發(fā)生變化。通過測量電學性質的變化,可以知道紅外輻射的強弱。光子效應所制成的紅外探測器。
題型:單項選擇題
雜質半導體中的載流子輸運過程的散射機構中,當溫度升高時,電離雜質散射的概率和晶格振動聲子的散射概率的變化分別是()
題型:單項選擇題