單項(xiàng)選擇題雜質(zhì)半導(dǎo)體中的載流子輸運(yùn)過程的散射機(jī)構(gòu)中,當(dāng)溫度升高時(shí),電離雜質(zhì)散射的概率和晶格振動(dòng)聲子的散射概率的變化分別是()
A.變大,變小
B.變小,變大
C.變小,變小
D.變大,變大
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1.單項(xiàng)選擇題如在半導(dǎo)體的禁帶中有一個(gè)深雜質(zhì)能級位于禁帶中央,則它對電子的俘獲率()空穴的俘獲率。
A.大于
B.等于
C.小于
D.有效的復(fù)合中心
2.單項(xiàng)選擇題與半導(dǎo)體相比較,絕緣體的價(jià)帶電子激發(fā)到導(dǎo)帶所需的能量()
A、比半導(dǎo)體的大
B、比半導(dǎo)體的小
C、與半導(dǎo)體的相等
3.單項(xiàng)選擇題表面態(tài)中性能級位于費(fèi)米能級以上時(shí),該表面態(tài)為();
A、施主態(tài)
B、受主態(tài)
C、電中性
4.單項(xiàng)選擇題最有效的復(fù)合中心能級位置在Ei附近;最有利陷阱作用的能級位置在()附近,常見的是少子陷阱。
A、EA,
B、ED,
C、EF,
D、Ei
5.單項(xiàng)選擇題載流子的擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生擴(kuò)散電流,漂移運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生()電流。
A、漂移
B、隧道
C、擴(kuò)散
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