多項(xiàng)選擇題切制抗壓試件法檢測(cè)時(shí),應(yīng)使用電動(dòng)切割機(jī),在磚墻上切割兩條豎縫,豎縫間距可?。ǎ?,應(yīng)人工取出與標(biāo)準(zhǔn)砌體抗壓試件尺寸相同的試件。

A、360mm
B、370mm
C、480mm
D、490mm


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.多項(xiàng)選擇題砌體工程現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí),原位軸壓法試驗(yàn)正式測(cè)試時(shí),應(yīng)分級(jí)加荷,以下說(shuō)法正確的是()。

A、每級(jí)荷載可取預(yù)估破壞荷載的10%
B、應(yīng)在1min~1.5mim內(nèi)均勻加完,然后恒載2min
C、加荷至預(yù)估破壞荷載的90%后,應(yīng)按原定加荷速度連續(xù)加荷,直至槽間砌體破壞
D、加荷至預(yù)估破壞荷載的80%后,應(yīng)按原定加荷速度連續(xù)加荷,直至槽間砌體破壞

2.多項(xiàng)選擇題砌體工程現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)技術(shù)中測(cè)區(qū)指在一個(gè)檢測(cè)單元內(nèi),隨機(jī)布置的()檢測(cè)區(qū)域。

A、一個(gè)
B、二個(gè)
C、若干個(gè)
D、三個(gè)
E、以上都不對(duì)

3.多項(xiàng)選擇題砌體工程施工中,石材及砂漿強(qiáng)度等級(jí)必須符合設(shè)計(jì)要求。檢驗(yàn)方法包括()。

A、料石檢查產(chǎn)品質(zhì)量證明書
B、石材試驗(yàn)報(bào)告
C、砂漿試塊試驗(yàn)報(bào)告
D、產(chǎn)品使用說(shuō)明書

最新試題

在通常情況下,GaN呈()型結(jié)構(gòu)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

如果雜質(zhì)既有施主的作用又有受主的作用,則這種雜質(zhì)稱為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

光子傳感器是利用某些半導(dǎo)體材料在入射光的照下,產(chǎn)生().使材料的電學(xué)性質(zhì)發(fā)生變化。通過(guò)測(cè)量電學(xué)性質(zhì)的變化,可以知道紅外輻射的強(qiáng)弱。光子效應(yīng)所制成的紅外探測(cè)器。  

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

最有效的復(fù)合中心能級(jí)位置在Ei附近;最有利陷阱作用的能級(jí)位置在()附近,常見的是少子陷阱。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

表面態(tài)中性能級(jí)位于費(fèi)米能級(jí)以上時(shí),該表面態(tài)為();

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

原子晶體中的原子與原子之間的鍵能隨原子間距的而迅速()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

與半導(dǎo)體相比較,絕緣體的價(jià)帶電子激發(fā)到導(dǎo)帶所需的能量()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

那個(gè)不是影響直拉單晶硅的電阻率均勻性的因素()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用能量()禁帶寬度的光子照射p-n結(jié)會(huì)產(chǎn)生光生伏特效應(yīng)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

下列選項(xiàng)中,對(duì)從石英到單晶硅的工藝流程是()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題