單項(xiàng)選擇題為了避免尖楔現(xiàn)象用含1%硅的硅鋁合金制備IC內(nèi)電極,多采用下列哪種工藝方法()
A.射頻濺射
B.LPCVD
C.電阻蒸鍍
D.PECVD
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1.單項(xiàng)選擇題poly-Si薄膜通常是采用什么方法制備的()
A.PECVD
B.LPCVD
C.APCVD
D.LCVD
2.單項(xiàng)選擇題LPCVD-SiO2,將工藝控制在較高溫度,有:ks>hg,此時(shí)淀積速率的特點(diǎn)為()
A.反應(yīng)劑氣體濃度的變化對(duì)淀積速率的影響不大
B.溫度的較小變化都會(huì)對(duì)淀積速率有較大影響
C.淀積速率受氣相質(zhì)量輸運(yùn)控制
D.淀積速率受表面化學(xué)反應(yīng)控制
3.單項(xiàng)選擇題在已擴(kuò)散結(jié)深達(dá)0.8μm的p-Si上再進(jìn)行濕氧,氧化層厚0.2μm時(shí),結(jié)深是多少()
A.0.6μm
B.0.712μm
C.0.512μm
D.0.088μm
5.多項(xiàng)選擇題關(guān)于離子注入?yún)^(qū)形成非晶層的臨界劑量,下面哪幾種說法正確()
A.靶溫升高,臨界劑量上升
B.注入離子越輕,臨界劑量越小
C.注入離子劑量率增大,臨界劑量降低
D.注入離子能量越高,臨界劑量越低
最新試題
消除鳥嘴效應(yīng)的方法有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
刻蝕工藝可以和以下哪個(gè)工藝結(jié)合來實(shí)現(xiàn)圖形的轉(zhuǎn)移?()
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多層陶瓷基板多層化的方法包括()。
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下面哪個(gè)選項(xiàng)不是集成電路工藝用化學(xué)氣體質(zhì)量的指標(biāo)?()
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CMP的設(shè)備構(gòu)成包括()。
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題型:多項(xiàng)選擇題
如下哪個(gè)選項(xiàng)不是半導(dǎo)體器件制備過程中的主要污染物?()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題