以下代碼描述了4位到2位的解碼器模塊DEC(具體見(jiàn)以下注釋)。請(qǐng)使用VerilogHDL描述語(yǔ)言寫(xiě)出能滿足下列條件的測(cè)試平臺(tái)模塊testbench:
1.DEC作為testbench的子模塊,所有輸入信號(hào)都由testbench生成并供給;
2.輸入信號(hào)din必須隨機(jī)生成;
3.必須在testbench內(nèi)部自動(dòng)判定DEC輸出信號(hào)dout正確與非;
4.能夠?qū)⒉ㄐ伪4嬷廖募?br />
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A.DIP
B.QFP
C.BGA
D.CSP
A.光刻膠涂覆
B.曝光
C.顯影
D.腐蝕
A.布線分全局布線與詳細(xì)布線兩個(gè)階段,決定布線途徑
B.當(dāng)某個(gè)布線變?yōu)椴豢赡軙r(shí),確定并拆除成為其障礙物的布線群,進(jìn)行重新布線,使其不再成為其它布線的障礙
C.基于階層的布局設(shè)計(jì)包括自頂向下的布圖規(guī)劃和自下向上的模塊布局
D.自頂向下的布圖規(guī)劃包括對(duì)階層模塊進(jìn)行面積預(yù)估、確定aspect比、放置模塊及模塊間時(shí)間制約的分割
A.是一種高速計(jì)算近似值的算法
B.是在實(shí)際可行的時(shí)間內(nèi)計(jì)算布局布線最優(yōu)解的算法
C.是求局部最優(yōu)解的算法
D.為了讓近似值接近最優(yōu)解,有必要改變執(zhí)行條件(初解、控制參數(shù))多次進(jìn)行重新計(jì)算
A.DRC
B.LVS
C.時(shí)序驗(yàn)證
D.信號(hào)完全性
最新試題
載帶自動(dòng)焊使用的凸點(diǎn)形狀一般有蘑菇凸點(diǎn)和柱凸點(diǎn)兩種。
使用3D封裝技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)40~50倍的成品尺寸和重量的減少。
塑封料的機(jī)械性能包括的模量有()。
倒裝芯片的連接方式有()。
QFP的結(jié)構(gòu)形式因帶有引線框(L/F),對(duì)設(shè)定的電性能無(wú)法調(diào)整,而B(niǎo)GA可以通過(guò)芯片片基結(jié)構(gòu)的變更,得到所需的電性能。
去飛邊毛刺工藝主要有介質(zhì)去飛邊毛刺、溶劑去飛邊毛刺、水去飛邊毛刺。
收縮型四邊扁平封裝的引腳中心距離比普通的四邊扁平要大,所以在封裝體的邊緣可以容納更多的引腳個(gè)數(shù)。
以下不屬于打碼目的的是()。
下面關(guān)于PBGA器件的優(yōu)缺點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
為了獲得好的性能,塑封料的電學(xué)性必須得到控制。