A.DIP
B.QFP
C.BGA
D.CSP
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A.光刻膠涂覆
B.曝光
C.顯影
D.腐蝕
A.布線分全局布線與詳細(xì)布線兩個(gè)階段,決定布線途徑
B.當(dāng)某個(gè)布線變?yōu)椴豢赡軙r(shí),確定并拆除成為其障礙物的布線群,進(jìn)行重新布線,使其不再成為其它布線的障礙
C.基于階層的布局設(shè)計(jì)包括自頂向下的布圖規(guī)劃和自下向上的模塊布局
D.自頂向下的布圖規(guī)劃包括對(duì)階層模塊進(jìn)行面積預(yù)估、確定aspect比、放置模塊及模塊間時(shí)間制約的分割
A.是一種高速計(jì)算近似值的算法
B.是在實(shí)際可行的時(shí)間內(nèi)計(jì)算布局布線最優(yōu)解的算法
C.是求局部最優(yōu)解的算法
D.為了讓近似值接近最優(yōu)解,有必要改變執(zhí)行條件(初解、控制參數(shù))多次進(jìn)行重新計(jì)算
A.DRC
B.LVS
C.時(shí)序驗(yàn)證
D.信號(hào)完全性
A.clock skew
B.組合電路的最大延遲
C.FF的Setup時(shí)間
D.FF的Hold時(shí)間
最新試題
關(guān)于電子封裝基片的性質(zhì),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
根據(jù)焊點(diǎn)的形狀,引線鍵合有兩種形式,分別是()。
凸點(diǎn)的制作技術(shù)有()。
以下不屬于打碼目的的是()。
通常芯片上的引出端焊盤(pán)是排列在管芯片附近的方形()。
下面關(guān)于PBGA器件的優(yōu)缺點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
鍵合工藝失效,,鍵合點(diǎn)尾絲不一致,可能產(chǎn)生的原因有()。
去飛邊毛刺工藝主要有介質(zhì)去飛邊毛刺、溶劑去飛邊毛刺、水去飛邊毛刺。
鍵合點(diǎn)根部容易發(fā)生微裂紋,原因可能是鍵合操作中機(jī)械疲勞,也可能是溫度循環(huán)導(dǎo)致熱應(yīng)力疲勞。
引線鍵合的目的是將金線鍵合在晶片、框架或基板上。