單項選擇題用能量()禁帶寬度的光子照射p-n結會產(chǎn)生光生伏特效應。
A、低于
B、等于或大于
C、大于
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1.單項選擇題半導體材料的電阻率與載流子濃度有關,同樣的摻雜濃度,載流子的遷移率越大,材料的電阻率()
A、越高
B、不確定
C、越低
D、不變
2.單項選擇題屬于晶體缺陷中面缺陷的是()
A、位錯
B、螺旋位錯
C、肖特基缺陷
D、層錯
3.單項選擇題那個不是影響直拉單晶硅的電阻率均勻性的因素()
A、分凝
B、蒸發(fā)
C、坩堝污染
D、損壞
4.單項選擇題正確的框圖簡要說明硅片制備主要工藝流程是()
A、單晶生長→整形→切片→晶片研磨及磨邊→蝕刻→拋光→硅片檢測→打包
B、單晶生長→切片→整形→晶片研磨及磨邊→蝕刻→拋光→硅片檢測→打包
C、單晶生長→整形→切片→晶片研磨及磨邊→拋光→蝕刻→硅片檢測→打包
D、單晶生長→整形→蝕刻→拋光→硅片檢測→切片→晶片研磨及磨邊→打包
5.單項選擇題直拉法生長單晶硅拉晶過程有幾個主要階段?()
A、3
B、5
C、4
D、2
最新試題
直拉法生長單晶硅拉晶過程有幾個主要階段?()
題型:單項選擇題
下列選項中,對從石英到單晶硅的工藝流程是()
題型:單項選擇題
那個不是影響直拉單晶硅的電阻率均勻性的因素()
題型:單項選擇題
載流子的擴散運動產(chǎn)生擴散電流,漂移運動產(chǎn)生()電流。
題型:單項選擇題
可用作硅片的研磨材料是()
題型:單項選擇題
屬于晶體缺陷中面缺陷的是()
題型:單項選擇題
如在半導體的禁帶中有一個深雜質(zhì)能級位于禁帶中央,則它對電子的俘獲率()空穴的俘獲率。
題型:單項選擇題
最有效的復合中心能級位置在Ei附近;最有利陷阱作用的能級位置在()附近,常見的是少子陷阱。
題型:單項選擇題
制約鑄造多晶硅材料少子壽命的主要因素不包括()
題型:單項選擇題
鑄造多晶硅中氫的主要作用包括()
題型:多項選擇題