判斷題常用的IC設(shè)計方法有全定制設(shè)計方法、標(biāo)準(zhǔn)單元設(shè)計方法、門陣列設(shè)計方法和可編程邏輯電路設(shè)計方法等。對于性能要求很高或批量很大的產(chǎn)品，如存儲器、微處理器等，一般采用可編程邏輯電路設(shè)計方法。
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