A.10mm
B.15mm
C.20mm
D.25mm
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A.5個(gè)
B.6個(gè)
C.8個(gè)
D.10個(gè)
A.屬原位檢測(cè),直接在墻體上測(cè)試,測(cè)試結(jié)果綜合反映了材料質(zhì)量和施工質(zhì)量
B.檢測(cè)部位局部破損
C.直觀性,可比性強(qiáng)
D.設(shè)備較輕
A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.5mm
D.1mm
A.塊材強(qiáng)度
B.砂漿強(qiáng)度
C.抹灰強(qiáng)度
D.砌體強(qiáng)度
A.0.05mm
B.0.25mm
C.0.5mm
D.0.1mm
最新試題
下列選項(xiàng)中,對(duì)從石英到單晶硅的工藝流程是()
一塊半導(dǎo)體壽命τ=15µs,光照在材料中會(huì)產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流子將衰減到原來(lái)的()。
在光線(xiàn)作用下,能使物體產(chǎn)生一定方向的電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象稱(chēng)()
原子晶體中的原子與原子之間的鍵能隨原子間距的而迅速()
雜質(zhì)半導(dǎo)體中的載流子輸運(yùn)過(guò)程的散射機(jī)構(gòu)中,當(dāng)溫度升高時(shí),電離雜質(zhì)散射的概率和晶格振動(dòng)聲子的散射概率的變化分別是()
對(duì)于大注入下的直接復(fù)合,非平衡載流子的壽命不再是個(gè)常數(shù),它與()。
在通常情況下,GaN呈()型結(jié)構(gòu)。
那個(gè)不是影響直拉單晶硅的電阻率均勻性的因素()
直拉法生長(zhǎng)單晶硅拉晶過(guò)程有幾個(gè)主要階段?()
PN結(jié)的基本特性是()