A.高電平輸出電阻與低電平輸出電阻相同
B.輸出高電平容限與輸出低電平容限相同
C.高電平輸出電流與低電平輸出電流相同
D.高電平驅(qū)動能力與低電平驅(qū)動能力相同
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A.SSI設(shè)計(jì)
B.MSI設(shè)計(jì)
C.VLSI設(shè)計(jì)
D.基于FPGA的可編程設(shè)計(jì)
A.可能導(dǎo)致電路可靠性下降
B.可能導(dǎo)致數(shù)字系統(tǒng)的成本提高
C.可能導(dǎo)致電路抗干擾性提高
D.可能導(dǎo)致數(shù)字系統(tǒng)的運(yùn)算速度提高
A.對CMOS結(jié)構(gòu)的NAND3,若每個MOS器件的導(dǎo)通電阻完全相同,當(dāng)高電平容限與低電平容限相同時,高電平驅(qū)動能力與低電平驅(qū)動能力相同
B.對CMOS結(jié)構(gòu)的NAND3,若每個MOS器件的導(dǎo)通電阻完全相同,當(dāng)高電平容限與低電平容限相同時,高電平驅(qū)動能力是低電平驅(qū)動能力的3倍
C.對CMOS結(jié)構(gòu)的NAND3,若每個MOS器件的導(dǎo)通電阻完全相同,當(dāng)高電平容限與低電平容限相同時,低電平驅(qū)動能力是高電平驅(qū)動能力的3倍
D.對CMOS結(jié)構(gòu)的NOR3,若每個MOS器件的導(dǎo)通電阻完全相同,當(dāng)高電平容限與低電平容限相同時,高電平驅(qū)動能力是低電平驅(qū)動能力的3倍
A.在同一芯片上制作大量晶體管就稱為集成電路
B.CMOS邏輯單元完全由晶體管在電路板上連接構(gòu)成
C.集成電路需要晶體管連接形成功能單元后再進(jìn)行封裝
D.集成電路的對等性設(shè)計(jì)要求各邏輯單元的高電平驅(qū)動能力與低電平驅(qū)動能力相同
A.275
B.250
C.220
D.200
最新試題
對于D觸發(fā)器,如果時鐘頻率為10MHz,輸出信號Q的頻率可能是()MHz。
要使JK觸發(fā)器在時鐘脈沖作用下,實(shí)現(xiàn)輸出,則輸入信號應(yīng)為()。
TTL門電路具有負(fù)載能力強(qiáng)、抗干擾能力強(qiáng)和轉(zhuǎn)換速度高等特點(diǎn)。
?十進(jìn)制數(shù)178.5對應(yīng)的余3碼是()。
?構(gòu)成數(shù)字電路最基本的器件主要有()。
?兩個二進(jìn)制數(shù)的補(bǔ)碼相加,有溢出的是()。
?如圖電路,描述正確的是()。
?當(dāng)共陰極7段數(shù)碼管顯示2的時候,輸出應(yīng)該為()。
如圖,此電路的輸入端I0_L是低電平有效,輸出A2A1A0是高電平有效,AVALID有效表示的是()。
邏輯函之間滿足()關(guān)系。