假設(shè)最小晶體管柵極導(dǎo)致的時(shí)間延遲為1,下列電路中從a到y(tǒng)的信號(hào)傳遞延遲為()。
A.4
B.6
C.9
D.13
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A.高電平輸出電阻與低電平輸出電阻相同
B.輸出高電平容限與輸出低電平容限相同
C.高電平輸出電流與低電平輸出電流相同
D.高電平驅(qū)動(dòng)能力與低電平驅(qū)動(dòng)能力相同
A.SSI設(shè)計(jì)
B.MSI設(shè)計(jì)
C.VLSI設(shè)計(jì)
D.基于FPGA的可編程設(shè)計(jì)
A.可能導(dǎo)致電路可靠性下降
B.可能導(dǎo)致數(shù)字系統(tǒng)的成本提高
C.可能導(dǎo)致電路抗干擾性提高
D.可能導(dǎo)致數(shù)字系統(tǒng)的運(yùn)算速度提高
A.對(duì)CMOS結(jié)構(gòu)的NAND3,若每個(gè)MOS器件的導(dǎo)通電阻完全相同,當(dāng)高電平容限與低電平容限相同時(shí),高電平驅(qū)動(dòng)能力與低電平驅(qū)動(dòng)能力相同
B.對(duì)CMOS結(jié)構(gòu)的NAND3,若每個(gè)MOS器件的導(dǎo)通電阻完全相同,當(dāng)高電平容限與低電平容限相同時(shí),高電平驅(qū)動(dòng)能力是低電平驅(qū)動(dòng)能力的3倍
C.對(duì)CMOS結(jié)構(gòu)的NAND3,若每個(gè)MOS器件的導(dǎo)通電阻完全相同,當(dāng)高電平容限與低電平容限相同時(shí),低電平驅(qū)動(dòng)能力是高電平驅(qū)動(dòng)能力的3倍
D.對(duì)CMOS結(jié)構(gòu)的NOR3,若每個(gè)MOS器件的導(dǎo)通電阻完全相同,當(dāng)高電平容限與低電平容限相同時(shí),高電平驅(qū)動(dòng)能力是低電平驅(qū)動(dòng)能力的3倍
A.在同一芯片上制作大量晶體管就稱為集成電路
B.CMOS邏輯單元完全由晶體管在電路板上連接構(gòu)成
C.集成電路需要晶體管連接形成功能單元后再進(jìn)行封裝
D.集成電路的對(duì)等性設(shè)計(jì)要求各邏輯單元的高電平驅(qū)動(dòng)能力與低電平驅(qū)動(dòng)能力相同
最新試題
二進(jìn)制加法運(yùn)算包含的輸入、輸出變量有()。
?十進(jìn)制數(shù)178.5對(duì)應(yīng)的余3碼是()。
已知函數(shù)F(A,B,C,D)=(AB’)’+(C’D+B’C)’,則其最簡(jiǎn)表達(dá)式為()。
?若集成塊內(nèi)部為驅(qū)動(dòng)單元提供的驅(qū)動(dòng)能力為1X,對(duì)于下圖所示的輸出緩沖設(shè)計(jì)(圖中反相器上面標(biāo)注了相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)能力),該輸出單元的延遲時(shí)間(從a到y(tǒng))相當(dāng)于()個(gè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)門(mén)級(jí)聯(lián)的延遲時(shí)間。
輸出端不能直接線與的門(mén)電路有()。
邏輯函之間滿足()關(guān)系。
?構(gòu)成數(shù)字電路最基本的器件主要有()。
?十進(jìn)制數(shù)22.37對(duì)應(yīng)的二進(jìn)制數(shù)是()。
?下圖邏輯單元實(shí)現(xiàn)的功能為()。
?如圖所示電路論述正確的是()。