問答題常見的終點檢測設(shè)備有那些?
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光刻工藝對準(zhǔn)誤差包括()。
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下面哪道工序主要是針對晶圓切割之后在顯微鏡下進(jìn)行晶圓r的外觀檢查,是否有出現(xiàn)廢品?()
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進(jìn)行光刻工藝前的清洗步驟是()。
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新的平坦化方法有哪幾個?()
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當(dāng)許多損傷區(qū)連在一起時就會形成連續(xù)的非晶層,開始形成連續(xù)非晶層的注入劑量稱為()。
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摻雜后,退火的目的是()。
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硅暴露在空氣中,在室溫下即可產(chǎn)生二氧化硅層,厚度約為()。
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常壓的硅外延方法有()。
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消除鳥嘴效應(yīng)的方法有()。
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CMP的設(shè)備構(gòu)成包括()。
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