判斷題在LPCVD中,由于hG>>kS,即質(zhì)量轉(zhuǎn)移系數(shù)遠(yuǎn)大于表面反應(yīng)速率常數(shù),所以,LPCVD系統(tǒng)中,淀積過(guò)程主要是表面反應(yīng)速率控制
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1.單項(xiàng)選擇題
下面選項(xiàng)屬于主擴(kuò)散的作用有()。
1.調(diào)節(jié)表面濃度
2.控制進(jìn)入硅表面內(nèi)部的雜質(zhì)總量
3.控制結(jié)深
A.1
B.2
C.3
D.1、3
2.單項(xiàng)選擇題
不論正膠或負(fù)膠,光刻過(guò)程中都包括如下步驟:
1.刻蝕
2.前烘
3..顯影
4.去膠
5.涂膠
6.曝光
7.堅(jiān)膜
以下選項(xiàng)排列正確的是:()。
A.2561437
B.5263471
C.5263741
D.5263714。
3.單項(xiàng)選擇題半導(dǎo)體器件生產(chǎn)中所制備的二氧化硅薄膜屬于()。
A.結(jié)晶形二氧化硅
B.無(wú)定形二氧化硅
4.名詞解釋再分布
5.名詞解釋平均投影射程RP
最新試題
刻蝕工藝可以和以下哪個(gè)工藝結(jié)合來(lái)實(shí)現(xiàn)圖形的轉(zhuǎn)移?()
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三光檢查主要是檢查芯片粘貼和引線焊接之后有無(wú)各種廢品。
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